高溫介電溫譜測量系統通過電極夾具測量平臺，可以測量單樣品和四樣品塊體材料；通過可密封的金屬屏蔽加熱系統，可以實現更多的測量環境（如：惰性氣氛、氧化氣氛、還原氣氛、真空氣氛），以滿足科研多樣化的需求。

通過介電溫譜測量系統，可以直接測量樣品的介電常數和介電損耗隨溫度、頻率、時間、偏壓等變化的曲線，可以測量阻抗和相位角隨溫度、頻率、偏壓、時間等變化的曲線，同時還可以測量壓電材料的機電耦合系數等。 廣泛應用于高校科研院所和企業單位在電介質陶瓷方面的研究。

了解原理和方法，讓測試更得心應手

平行板法在ASTM D150標準中又稱為三端子法，其原理是通過在兩個電極之間插入一個材料或液體薄片組成一個電容器，然后測量其電容，根據測量結果計算介電常數。在實際測量裝置中，兩個電極配備在夾持介電測量的測試夾具上。介電溫譜測量系統將測量電容（C）和損耗（D）的矢量分量，然后由軟件程序計算出介電常數和損耗角正切。

評估材料介電性能通常采用平行板電容器原理，上下電極采用兩個平行板是理想情況，但實際上在制作樣品和測量過程中樣品與電極兩個平面不可能完全接觸，通常只是一個或多個點接觸，如果某個接觸點導電性能不好就容易導致測量不穩定。為了避免以上現象，電溫譜儀上電極采用半球狀，下電極采用平面，該電極系統可以精確定位測量被測樣品某一點，從而使系統的重復性和穩定性更好。

強大精準的介電測量軟件

可以直接測量樣品的介電常數和介電損壞隨溫度、時間、頻率變化的曲線，可以測量阻抗譜隨溫度、時間、頻率變化的曲線，同時得出Cole-Cole圖和壓電材料的機電耦合系數等。
1、介電常數和介電損耗

通過阻抗測量C和D值，軟件可以自動計算出介電常數和介電損耗隨溫度、時間、偏壓、頻率變化的曲線，還可以直接得出介電常數實部和虛部的比值。

2、阻抗譜及Cole-Cole圖

通過阻抗測量Z和φ 值，軟件可以自動計算出復阻抗隨溫度、時間、偏壓、頻率變化的曲線，還可以直接得出復阻抗Cole-Cole圖。

3、機電耦合系數Kp

通過阻抗測量Z和C值，以及不同溫度下的諧振頻率和反諧振頻率，再通過軟件自動計算出機電耦合系數隨溫度、時間、頻率變化的曲線，軟件可以直接得出機械品質因數Qm。

關于介電常數及阻抗等參數選擇的儀器設備：

1、WK6500B系列

七種機型20Hz~5MHz,10MHz,15MHz,20MHz,30MHz,50MHz和120MHz，符合客戶不同采購預算

• 簡易的TFT觸屏操作，10分鐘內輕易上手
• 電介質、壓電片及石英晶體測試解決方案
• 30 ms超高速測試速度
• 等效Rdc 可高度精準四線式測試，量測到0.01mΩ
• 0.05%基本精確度
• 可內建0-100mA +/- 40V，外加可至60A DC Bias 
• 可將測試波形儲存成CSV格式，放大、縮小及MARKER功能
• 20Hz~120MHz，七種機型，可隨時升級 ，最高升級到120MHz
• 直覺的用戶操作接口，USB、LAN、GPIB及HANDLER 
• 可使用鼠標及鍵盤操控，也可外接打印機及使用USB接口儲存數據
• 具等效電路仿真功能，內建同頻率LCR Meter一臺

測試參數：容(C), 電感(L), 電阻(R), 電導(G), 電納(B), 電抗(X), 損耗因數(D), 品質因數(Q), 阻抗(Z), 導納(Y), 相位角(θ)、介電常數（ε′ ?相對介電常數實部、ε′′r相對介電常數虛部、Dε相對介電損耗）、磁導率（μ ′ ?相對磁導率實部、μ′′r 相對磁導率虛部、Dμ相對磁導率損耗）

2、WK6500P系列
本機種一共有七種機型，分別是20Hz~5MHz, 20Hz~10MHz, 20Hz~15MHz, 20Hz~20MHz, 20Hz~30MHz, 20Hz~50MHz, 20Hz~120MHz, +/-0.05%準確度。
在生產線的高頻量測中，此機種為目前全球測試最準確，測試頻率最高的機種。

• 0.05%基本精確度，頻率分辨率≤1mHz
• 簡易的TFT觸屏操作，10分鐘內輕易上手 
• 電介質、壓電片及石英晶體測試解決方案
  ＜30 mS 自動化測量可結合測包機測試
• 高頻四線式技術，可測量極低Rs、等效Rdc和高Q值
  內置交流信號：10mV ~ 1Vrms，200μA~20mArms。直流內置偏置信號：0~ 100mA/0~ +40V或-40V~ +40V（選配）。可外加WK6565高頻直流偏置電流源到40Amp
• 四種模式統一操作界面，Hander連接自動化分選設備，LAN、GPIB電腦聯機軟件通信接口
• 可使用鼠標及鍵盤操作，也可外接列表打印機及使用U盤保存數據，測試圖像
• 英國設計，接受軟硬件升級及定制化需求

測試參數:電容(C), 電感(L), 電阻(R), 電導(G), 電納(B), 電抗(X), 損耗因數(D), 品質因數(Q), 阻抗(Z), 導納(Y), 相位角(θ)、介電常數（ε′ ?相對介電常數實部、ε′′r相對介電常數虛部、Dε相對介電損耗）、磁導率（μ ′ ?相對磁導率實部、μ′′r 相對磁導率虛部、Dμ相對磁導率損耗）